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Die POWTECH ist weltweit die unangefochtene Nummer eins für Pulver-, Granulat- und Schüttguttechnologien. Sie spiegelt den aktuellen Stand der mechanischen Verfahrenstechnik und Analytik wider – und gibt damit einen einzigartigen Überblick für eine Vielzahl an Branchen. Seien Sie unser Gast und entdecken Sie auf der Leitmesse POWTECH 2017 vom 26.-28. September in Nürnberg am Malvern Panalytical Stand 1-314 alles rund um die Analytik von Pulvern, Schüttgut, Nanopartikeln und Dispersionen: Halten Sie bei uns einen Moment inne und erleben Sie gezielte Infos für Ihre Materialanalyse!

Freikarte:
Fordern Sie Ihre kostenlose Eintrittskarte (Stichwort: Freikarte Powtech) bei uns an, lösen Sie diese auf der Powtech Homepage unter powtech.de/gutschein ein und genießen Sie kostenlosen Zutritt zur Messe über die Fast Lane. Informieren Sie uns dabei gerne über Ihren Besuchstag bei uns am Malvern Panalytical Stand, damit wir genügend Zeit für Ihre individuellen Fragen und Wünsche einplanen können.

Exklusive Einladung: Standparty “Malvern Panalytical Get Together” 
Am Dienstag, 26. September ab 17.30 Uhr möchten wir Ihnen verraten woran wir seit Monaten im Verborgenen arbeiten – bei unserer exklusiven Malvern Panalytical Standparty – jetzt anmelden. Seien Sie mit uns einen Schritt voraus und entdecken Sie alle Facetten unserer neu geformten Leistungskraft.

Produkt-, Mess- und Technologie-Schwerpunkte:
Laserbeuger Mastersizer 3000 – Partikelgrößenbestimmung von Nano bis Makro
Prozess-Laserbeugung Insitec – Partikelgrößenbestimmung im Prozess
DLS/ELS Zetasizer Nano – Größe und Zetapotenzial – Das Original
NanoSight trackt Nanopartikel – Patentierte, visuelle Einzelpartikeldetektion
Rheometer Kinexus – Plug and Play Rheologie
Morphologi G3-ID – Das Geheimnis komplexer Pulvermischungen/Polydispersionen
Chemische Analyse mit der Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) – Epsilon-Serie
Phasen/Kristallanalyse mit der Röntgendiffraktometrie (XRD) – das neue Aeris
Materialanalyse mit Nahinfrarot-Spektroskopie – das portable QualitySpec Trek

Vorträge im Expertenforum „Pharma. Manufacturing. Excellence.“

Die Einsatzmöglichkeiten von XRD in der Pharmazeutischen Technologie
Referent: Dr. Mark Wingfield
Dienstag, 26.09.17, 15:30 – 16:00
Rohstoffidentitätsprüfung und Katalysatorenrückstandsanalyse mit der Röntgenfluoreszenz (RFA)
Referent: Stefan Hoffmann
Mittwoch, 27.09.2017, 11:00 – 11:30
Der Einfluss von Partikelgröße, Zetapotenzial und rheologischen Eigenschaften auf die Stabilität von pharmazeutischen Dispersionen
Referent: Dr. Mark Wingfield
Mittwoch, 27.09.2017, 14:00 – 14:30
Complex Generics: Application of Morphologically Directed Raman Spectroscopy in deformulation and in vitrobioequivalence studies
Speaker: Deborah Huck-Jones & Cathryn Langley
Wednesday, 27.09.2017, 14:30 – 15:00

Wir freuen uns sehr auf Ihren Besuch!